Hochentwickeltes aufrechtes metallographisches Mikroskop
PMM-3LI
Kategorie:
Aufrechtes metallurgisches Mikroskop
Schlüsselwörter:
Mischgerät Mixer Zentrifuge Laboratoriumsgehäuse
Das hochentwickelte invertierte metallografische Mikroskop PMM-3LI (Hell- und Dunkelfeld) wurde entwickelt, um den Anforderungen der Halbleiterindustrie, der Siliziumwafer-Herstellung, der Informationstechnologiebranche sowie der metallurgischen Industrie gerecht zu werden. Als fortschrittliches metallografisches Mikroskop ermöglicht es Anwendern, seine herausragenden Leistungsmerkmale zu erleben und findet breite Anwendung bei der Untersuchung von Schmierstoffen, Halbleitern, FPDs, Schaltkreisverpackungen, Schaltkreisunterlagen, Werkstoffen, Guss- bzw. Metall- und Keramikbauteilen sowie Präzisionsformen.
Produktspezifikation
Produkteigenschaften:
- Es werden zwei Beleuchtungsarten, nämlich Auflicht- und Durchlichtbeleuchtung, eingesetzt. Bei der Auflichtbeleuchtung können sowohl Hellfeld- und DIC-Beobachtungen als auch Polarisationslichtbeobachtungen durchgeführt werden.
- Bei Durchlichtbeleuchtung wird eine Hellfeldbeobachtung durchgeführt. Das stabile und hochwertige optische System sorgt für klarere Abbildungen und einen besseren Kontrast. Das ergonomische Design ermöglicht ein komfortables und entspanntes Arbeiten.
Technische Spezifikationen:
Modellnummer | PMM-3LI |
Beobachtungsrohr | 30° Scharnier-Typ Drei-Spiegel-Röhre (mit der Fähigkeit, digitale Videogeräte anzuschließen) |
Mechanische Rohrlänge | Unendlichkeitsdistanzsystem ∞ |
Röhrenlinse | f=200mm |
Objektivwechsler | Ein Vierloch-Konverter mit DIC-Buchse |
Pupillendistanz | 50mm-75mm |
Bühne | Doppelschichtige mobile Plattform, Plattformgröße: 189 mm x 160 mm, Bewegungsbereich: 80 mm x 50 mm |
Farbfilter | Farbfilter (grün, blau, neutral) |
Kondensator | N.A = 1,25 Abbe-Kondensor mit variabler Aperturblende und Farbfilter |
Fokus-Einstellvorrichtung | Koaxiale Fokussierung mit grober und feiner Einstellung, Feineinstellschritt 0,002 mm |
Polarisationsvorrichtung | Der Polarisator kann um 360 Grad gedreht werden. Der Polarisator und der Analysator können aus dem optischen Strahlengang entfernt werden. |
Testwerkzeug | Standardmessgerät: 0,01 mm Mikrometer |
Lichtquelle | (1) Durchlichtbeleuchtung: Kohler-Beleuchtung Halogenlampe 12 V, 50 W, breiter Spannungsbereich AC 85 V – 260 V, Helligkeit stufenlos einstellbar |
Wählt Zubehör:
Augenlinse | |||
Kategorie | Vergrößerung | Felddurchmesser (mm) | Hinweise |
Kollimierendes Okular mit ultrawidem Sichtfeld | 10X | Φ25 | -- |
Fadenkreuz-Okular | 10X | Φ20 | 0,1-mm-Fadenkreuz-Skalenplatte |
Metallographisches Objektiv (Hellfeld und Dunkelfeld) | ||||
Objektivtyp | Vergrößerung | Numerische Apertur (NA) | System | Arbeitsabstand (mm) |
Ultra-langer Arbeitsabstand, Flachfeld, unendliche Objektivbrennweite (Hell-/Dunkelfeldobjektiv) | 5-fach | 0.10 | trocken | 29.4 |
10X | 0.25 | 16.0 | ||
20X | 0.40 | 10.5 | ||
50X | 0.55 | 5.1 | ||
Die Gesamtvergrößerung des metallographischen Mikroskops | |||
Objektiv | Augenlinse | Koeffizient des Objektivs | Gesamtvergrößerung |
5X | 10X | 1X | 50X |
10X | 100X | ||
20X | 200X | ||
50X | 500X | ||
-
Dateigröße: 1.5MB
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Computerbasiertes metallurgisches Auflichtmikroskop
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