Hochentwickeltes aufrechtes metallographisches Mikroskop
PMM-3LIC
Kategorie:
Aufrechtes metallurgisches Mikroskop
Schlüsselwörter:
Mischgerät Mixer Zentrifuge Laboratoriumsgehäuse
Das hochentwickelte invertierte metallografische Mikroskop PMM-3LIC (Hell- und Dunkelfeld) wurde entwickelt, um den Anforderungen der Halbleiterindustrie, der Siliziumwafer-Herstellung, der Informationstechnologiebranche sowie der metallurgischen Industrie gerecht zu werden. Als fortschrittliches metallografisches Mikroskop ermöglicht es den Anwendern, seine herausragenden Leistungsmerkmale zu erleben und findet breite Anwendung bei der Untersuchung von Schmierstoffen, Halbleitern, FPDs, Schaltkreisverpackungen, Schaltkreisunterlagen, Werkstoffen, Guss-, Metall- und Keramikbauteilen sowie Präzisionsformen.
Produktspezifikation
Produkteigenschaften:
- Es werden zwei Beleuchtungsarten, nämlich die Auflicht- und die Durchlichtbeleuchtung, eingesetzt. Bei der Auflichtbeleuchtung können sowohl Hellfeld- und DIC-Beobachtungen als auch Polarisationslichtbeobachtungen durchgeführt werden.
- Bei Durchlichtbeleuchtung wird eine Hellfeldbeobachtung durchgeführt. Das stabile und hochwertige optische System sorgt für klarere Bilder und besseren Kontrast. Das ergonomische Design ermöglicht ein komfortables und entspanntes Arbeiten.
Technische Spezifikationen:
Modellnummer | PMM-3LIC |
Beobachtungsrohr | 30° Scharnier-Typ Drei-Spiegel-Röhre (mit der Fähigkeit, digitale Videogeräte anzuschließen) |
Mechanische Rohrlänge | Unendlichkeitsdistanzsystem ∞ |
Röhrenlinse | f=200mm |
Objektivwechsler | Ein Vierloch-Konverter mit DIC-Buchse |
Pupillendistanz | 50mm-75mm |
Bühne |
|
Farbfilter | Farbfilter (grün, blau, neutral) |
Kondensator | N.A = 1,25 Abbe-Kondensor mit variabler Aperturblende und Farbfiltern |
Fokus-Einstellvorrichtung | Koaxiale Fokussierung mit grober und feiner Einstellung, Feineinstellschritt 0,002 mm |
Polarisationsvorrichtung | Der Polarisationsspiegel kann um 360 Grad gedreht werden. Sowohl der Polarisationsspiegel als auch der Analysator können aus dem optischen Strahlengang entfernt werden. |
Testwerkzeug | Standardmessgerät: 0,01 mm Mikrometer |
Lichtquelle | (1) Durchlichtbeleuchtung: Kohler-Beleuchtung Halogenlampe 12 V 50 W, breiter Spannungsbereich AC 85 V – 260 V, Helligkeit stufenlos einstellbar |
Computerbildgebungssystem | (1) Digitale CMOS-Kamera, 5 Millionen Pixel. Wird mit einer Software zur geometrischen Messanalyse geliefert. Diese Software kann Punkte, Linien, Kreise und Bögen, Geradheit, Rundheit, Fläche usw. messen. |
Wählt Zubehör:
Augenlinse | |||
Kategorie | Vergrößerung | Felddurchmesser (mm) | Hinweise |
Kollimierendes Okular mit ultrawidem Sichtfeld | 10X | Φ25 | -- |
Fadenkreuz-Okular | 10X | Φ20 | 0,1-mm-Fadenkreuz-Skalenplatte |
Metallographisches Objektiv (Hellfeld und Dunkelfeld) | ||||
Objektivtyp | Vergrößerung | Numerische Apertur (NA) | System | Arbeitsabstand (mm) |
Ultra-langer Arbeitsabstand, Flachfeld, unendliche Objektivbrennweite (Hell-/Dunkelfeldobjektiv) | 5-fach | 0.10 | trocken | 29.4 |
10X | 0.25 | 16.0 | ||
20X | 0.40 | 10.5 | ||
50X | 0.55 | 5.1 | ||
Die Gesamtvergrößerung des metallographischen Mikroskops | |||
Objektivlinsen | Augenlinse | Koeffizient des Objektivs | Gesamtvergrößerung |
5X | 10X | 1X | 50X |
10X | 100X | ||
20X | 200X | ||
50X | 500X | ||
Zubehör auswählen:
Zubehör auswählen | ||
| 1 | Weitfeldokular | Teilendes Okular 10X (22 mm) |
| 2 | Helligkeits- und Dunkelfeldobjektiv | 40-fach, 60-fach, 80-fach, 100-fach (trocken) |
| 3 | CCD-Schnittstelle | 0,5-fach, 1-fach |
| 4 | Digitale CMOS-Kamera | USB-Ausgang: 3 Millionen/10 Millionen Pixel VIDEO-Ausgang: 380/520 TV-Zeilen |
| 5 | Digitalkamerastecker | CANON(EF) NIKON |
-
Dateigröße: 1.1MB
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